宁夏卡尔蔡司扫描显微镜通道

配合不同探测器的选择，使Sigma 广泛地适用于您的应用：无论是正在开发的新材料、用于质量检查的颗粒还是生物或地质标本，该电镜可助您研究各种样品。在较端条件下，利用可变压力（VP）成像，借助NanoVPlite，即使在低电压下，也能在非导体上获得出色的图像和分析结果。

由于高浓度的琼脂糖浓度会影响部分活体样本的发育和状态，琼脂糖浓度太低又会影响样品的稳定性，此时，我们可以选择将样品围封在FEP管中。 适合样品：折射率和FEP、琼脂糖相似的样品，如斑马鱼、果蝇、线虫、拟南介等。 样品大小：平台配有不同规格的FEP管，具体围封方式类似于包埋方式。 围封样品模式图

蔡司热场发射扫描电子显微镜SIGMA 500采用Gemini电子束非交叉光路设计，突破了传统设计中电子束交叉三次造成能量扩散的限制。束流适中，大大降低了色差对成像质量的影响。镜头镜筒内置电子束加速器，*切换减速模式即可实现高质量的低电压成像。较低20V可成像，样品类型不受限制。透镜镜筒物镜采用静电透镜和电磁透镜相结合的方式，在工作距离范围内没有磁场，可在高倍率下观察磁性材料。环形二次电子探测器In-Lens安装在镜筒的正光路上。圆柱形一体化**大样品室配备5轴全自动中心样品台，可容纳直径250mm的**大样品。同一品牌的电子显微镜和光学显微镜可以组合观察(可选)，只有一个通用的样品架和配套的软件是Shuttle&Find，可以充分发挥光镜和电子镜各自的优势

蔡司解决方案在增材制造领域的应用范围覆盖粉末和材料分析，所使用的设备包括光学显微镜、扫描电镜、X射线技术。 使用光学显微镜来测试金属粉末的粒径分布 使用SEM扫描电镜对3D打印金属粉末的球形度和实心性进行分析 使用CT对粉末颗粒的宽高比和粒径进行分析 对于内部缺陷，蔡司的解决方案也能轻松检测，比如微裂纹、分层、疲劳裂纹、盈利、孔隙率、粉末残留物和气孔等。

组织透明处理技术能够让您深入大型生物样品内，例如：组织切片、大脑、胚胎、器官球状体或活组织切片。您可以使用增强的光学穿透深度来捕获整个器官的荧光信号。这也令其成为一项具有发展前景的技术，例如：检测小鼠大脑神经元网络。

电子经过一系列电磁透镜成束后，打到样品上与样品相互作用，会产生二次电子、背散射电子、俄歇电子以及X射线等一系列信号。所以需要不同的探测器譬如二次电子探测器、X射线能谱分析仪等来区分这些信号以获得所需要的信息。虽然X射线信号不能用于成象，但习惯上，仍然将X射线分析系统划分到成象系统中。 有些探测器造价昂贵，比如Robinsons式背散射电子探测器，这时，可以使用二次电子探测器代替，但需要设定一个偏压电场以筛除二次电子。
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