重庆ZEISS电子显微镜代理

全套探测系统： 根据出射能量和出射角选 择性地探测样品的电子 GeminiSEM 系列的全套探测系统有大量不同 的探测器可供选配。通过组合 EsB (能量选 择背散射) 探测器、 Inlens 二次电子探测器 及 AsB (角度选择背散射) 探测器获取样品 材料、表面形貌或结晶度的信息。入射电子 与样品作用后可产生二次电子( SE ) 和背散 射电子( BSE )。从纳米级样品表面逃逸出的、 能量小于 50 eV 的二次电子可用来表征样 品的表面形貌。这些二次电子可通过*特设 计的电子束推进器向后加速进入镜筒，并经 Gemini 物镜投射到环形 Inlens 二次电子探测 器里。 GeminiSEM 可根据样品的表面条件在 宽角度范围内探测二次电子。

在工业质量、失效分析或研究环境中，由于扫描电子显微镜 可提供高分辨率成像和高空间分辨率元素化学信息，所以它 是金相学和失效分析应用的理想之选。

扩展功能 ■ 与蔡司电镜可实现联用, 实现样品的多尺 度多维度研究; ■ 搭载第三方配件, 如冷热台, 拉伸台, 实 现样品原位 4D 分析; ■ 搭载 Airyscan 实现高分辨荧光成像; ■ 配置 ZEN Intellesis 软件提供基于机器学习 的图像分割解决方案,可用于鉴别复杂样 品的不同相组织。
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