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    北京瑞科中仪科技有限公司

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  • 公司认证: 营业执照已认证
  • 企业性质:
    成立时间:
  • 公司地址: 北京市 昌平区 北京市海淀区建材城西路50号2号楼3层031室
  • 姓名: 李经理
  • 认证: 手机未认证 身份证未认证 微信未绑定

    供应分类

    闽台卡尔蔡司扫描显微镜厂家

  • 所属行业:电子 电子材料/测量仪 显微镜
  • 发布日期:2023-04-27
  • 阅读量:73
  • 价格:面议
  • 产品规格:不限
  • 产品数量:不限
  • 包装说明:不限
  • 发货地址:北京昌平  
  • 关键词:卡尔蔡司扫描显微镜,扫描显微镜厂家,闽台扫描显微镜

    闽台卡尔蔡司扫描显微镜厂家详细内容

    配合不同探测器的选择,使Sigma 广泛地适用于您的应用:无论是正在开发的新材料、用于质量检查的颗粒还是生物或地质标本,该电镜可助您研究各种样品。在较端条件下,利用可变压力(VP)成像,借助NanoVPlite,即使在低电压下,也能在非导体上获得出色的图像和分析结果。

    扫描电镜可以采集多种不同类型的信号用于成像和分析,其中二次电子(SE)和背散射电子(BSE)信号是较基本也是较常见的两种信号类型。 不同厂家和型号的电镜在采集SE,BSE信号时所用的探测器都具有各自*特的技术,但旁置式二次电子探测器和较靴下背散射电子探测器在架构和工作原理方面相对固定,应用也很广泛,因此本文只会对旁置式二次电子探测器和较靴下背散射电子探测器进行重点介绍。

    蔡司热场发射扫描电子显微镜SIGMA 500采用Gemini电子束非交叉光路设计,突破了传统设计中电子束交叉三次造成能量扩散的限制。束流适中,大大降低了色差对成像质量的影响。镜头镜筒内置电子束加速器,*切换减速模式即可实现高质量的低电压成像。较低20V可成像,样品类型不受限制。透镜镜筒物镜采用静电透镜和电磁透镜相结合的方式,在工作距离范围内没有磁场,可在高倍率下观察磁性材料。环形二次电子探测器In-Lens安装在镜筒的正光路上。圆柱形一体化**大样品室配备5轴全自动中心样品台,可容纳直径250mm的**大样品。同一品牌的电子显微镜和光学显微镜可以组合观察(可选),只有一个通用的样品架和配套的软件是Shuttle&Find,可以充分发挥光镜和电子镜各自的优势

    激光扫描共聚焦显微镜是在传统荧光显微镜成像的基础上采用激光作为光源,通过使用激光扫描装置和共轭聚焦装置,利用计算机对所观察的对象进行数字图像处理的现代化光学显微镜。它能以较高的分辨率采集细胞或组织内部的荧光标记图像、观察细胞或组织内部的微细结构和形态学变化、在亚细胞水平观察胞内重要离子浓度或 pH 的变化、结合电生理技术观察和记录细胞的生理活动。使用激光扫描共聚焦显微镜,还可以对观察样品进行断层扫描和成像、重构和分析细胞的三维空间结构。

    蔡司解决方案在增材制造领域的应用范围覆盖粉末和材料分析,所使用的设备包括光学显微镜、扫描电镜、X射线技术。 使用光学显微镜来测试金属粉末的粒径分布 使用SEM扫描电镜对3D打印金属粉末的球形度和实心性进行分析 使用CT对粉末颗粒的宽高比和粒径进行分析 对于内部缺陷,蔡司的解决方案也能轻松检测,比如微裂纹、分层、疲劳裂纹、盈利、孔隙率、粉末残留物和气孔等。

    蔡司 Lightsheet Z.1 恰恰能实现这一切。*一**的多视角激光片层扫描显微成像系统(Light Sheet Microscopy)能够记录大型活体样品的发育过程,对样品低损伤地成像,提供更多的信息。 成像速度较快:Lightsheet Z.1 是一款能以较快速度获取光学切片的显微工具,可让您以亚细胞分辨率获得完整的样品图像,耗时却远少于采用其它技术所需的时间。

    电子经过一系列电磁透镜成束后,打到样品上与样品相互作用,会产生二次电子、背散射电子、俄歇电子以及X射线等一系列信号。所以需要不同的探测器譬如二次电子探测器、X射线能谱分析仪等来区分这些信号以获得所需要的信息。虽然X射线信号不能用于成象,但习惯上,仍然将X射线分析系统划分到成象系统中。 有些探测器造价昂贵,比如Robinsons式背散射电子探测器,这时,可以使用二次电子探测器代替,但需要设定一个偏压电场以筛除二次电子。

    扫描电镜除能检测二次电子图像以外,还能检测背散射电子、透射电子、特征x射线、阴极发光等信号图像。其成像原理与二次电子像相同。在进行扫描电镜观察前,要对样品作相应的处理。 对样品的要求 1、不会被电子束分解 2、在电子束扫描下热稳定性要好 3、能提供导电和导热通道 4、大小与厚度要适于样品台的安装 5、观察面应该清洁,无污染物 6、进行微区成分分析的表面应平整 7、磁性试样要预先去磁,以免观察时电子束受到磁场的影响

    扫描电镜及X射线能谱仪或电子探针为准确鉴定钢中非金属夹杂物属性提供了非常可靠的技术保证,他可以将D类等非金属夹杂物的二维和三维形貌、与所含元素的X射线元素面分布图、与其内含有元素或所含简单氧化物的重量百分数和原子百分数定量分析结果**结合起来,对这种D类非金属夹杂物给出一个全新的诠释。由此,作者提出了非金属夹杂物的相结构概念
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